peak power

pic Ref: http://en.wikipedia.org/wiki/Power_(physics) purpose: 利用 Power Model 算出 peak power value. 避免 Test Vector 在測試的過程中瞬間 power 過大,讓chip 燒毀. 在power monitor part2 中我們算出 Pin 腳的 transition total count, 再把 back end 所抽出來的 R, C, L 值代入 power model 中, 就可大概算出 power 的 total 值, 之後再藉由每個 peak 值來分析 Vector 所消耗的 peak power 跟 Vector 所佔有的 coverage 是否足夠到我們所要的目標. solutions: Step 1. 分析 Vector, 判斷是 function vector/ ATPG vector. 如果是 function vector, 就可針對 function vector 所測試的部份做分析, 因為function vector 是對 chip 內的 function 做驗證, 試著分析每支 function vector 的相依性找出相關和不相關的部份.假設在 T+n 支 vector 上發現有 peak power 過大的問題, 但在 T+1 支 vector 卻已測過相同的部份且 coverage 還不錯, 就可試著把 T+n 的 Vector 拿掉 peak power 的部份. 可加快測試的速度跟power 的消耗. Step 2. 分解 Vector,把 Vector 猜解成多支 Vectors .可減少 Peak Power 的消耗,相對的測試時間較長. Step 3. 改變 Vector 的順序, 在 Vector 測試的流程中, Coverage 會慢慢趨於一個飽和值, 可藉由 Vector 分析其特性曲線跟　Peak Power 的關係 PS: 一般會發生 peak power 過大的問題都來自 ATPG Vector,因為 ATPG 是亂數產生, 沒有 Test 特定的部位,　所以會造成額外的 power 消耗, 但如果是以 Testing 的角度來看,如果能測到更多的　faults, 用 test time 跟 power 來交換應該也是值得的....